안리쓰(Anritsu Corporation)는 광 모듈 생산 및 검사를 목표로하는 BERTWave MP2110A의 샘플링 오실로스코프의 이전 26 Gbaud 지원에 이어 53 Gbaud PAM4 분석 기능을 추가한 펌웨어 다운로드 기능을 추가한다고 발표했다.

MP2110A는 고감도 및 고속 측정 기능을 모두 갖추고 있을뿐만 아니라 더불어 데이터 센터에 배치될 것으로 예상되는 차세대 QSFP-DD 광 트랜시버의 개발 및 생산 라인 검사를 지원한다.

◇개발 배경

일률적인 비디오 스트리밍 및 클라우드 서비스의 확산으로 인해 데이터 트래픽이 기하 급수적으로 증가하고 있다. 이러한 증가세에 대응하려면 100Gbit/s 이상의 전송 장비 인터페이스 배치가 필요하며 이미 200/400GbE 인터페이스가 출연되기 시작했다. 또한 이 200/400GbE 전송 형식은 구형 NRZ*2 기술 대신 PAM4*1 기술을 사용한다.

현재 CFP8 등과 같이 제조된 광 모듈은 26-Gbaud PAM4 광 신호를 사용하지만 향후 대량 생산되는 QSFP-DD 및 OSFP 모듈은 53-Gbaud PAM4 광 신호를 사용한다.

◇제품 개요

이러한 상황에서 안리쓰는 BERTWave MP2110A의 샘플링 오실로스코프에 이전 26 Gbaud 지원에 이어 53 Gbaud PAM4 분석 기능을 추가했다.

MP2110A는 NRZ 기술뿐만 아니라 TDECQ*3을 포함한 PAM4 신호 측정을 지원하여 25~400G의 속도로 광 모듈의 올인원 품질 평가를 가능하게 한다. 또한 고속 측정 및 PAM4를 특징으로하는 MP2110A 분석은 광 모듈 생산 라인 생산성을 향상시키는 데 중요한 역할을 한다. 아울러 차세대 광 모듈의 품질 평가를 위해 53 Gbaud를 지원함으로써 장비 투자 비용을 절감할 수 있다. 업그레이드로 추가된 53 Gbaud 분석 기능은 PAM4 신호 분석 소프트웨어 옵션에 포함되어 있다.

◇주요 특징(PAM4 Analysis Option)

Easy Operation

TDECQEqualizer*4에 맞게 조정된 TDECQ측정은 복잡한 설정을 제거하고 다른 제조 업체의 오실로스코프와 상호 연관된 높은 재현성 (high-reproducibility) 측정 값을 획득할 수 있도록 지원된다.

High Speed

250K Sample/s의 높은 샘플링 속도를 통해 측정 시간을 단축하고 생산성을 높일 수 있다.

High Sensitivity

저잡음(3.4 μW) 고감도 O/E 모듈을 통해 근접 Eye PAM4 신호를 정확하게 측정하여 라인 생산성을 높일 수 있다.

Technical Terms

*1 PAM4
진폭 변조를 사용한 펄스 진폭 변조 방법, PAM4 는 4레벨 진폭 변조를 사용한다.

*2 NRZ
두 값을 사용하여 데이터가 전송되는 0이 아닌 디지털 신호 전송 방법 약어.

*3 TDECQ
 Transmitter and Dispersion Eye Closure Quaternary의 약어로 PAM4 광 신호 품질의 전형적인 측정 지표로 사용된다. NRZ 아이 마스크와 동일하며 IEEE802.3에 의해 표준화.

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김건호 기자 다른기사 보기